Oled 模組批量老化設備

1.大(dà)規模模組老化測試系統是通過Keithley3706A數據采集系統采集矽光電(diàn)二極管的 光電(diàn)流/光電(diàn)壓從而得到AMOLED模組相對亮度的變化過程，可在單個模組或屏體(tǐ) 上增加多個矽光電(diàn)二極管來實現多個位置的亮度老化監控；支持圖片自定義切換， 支持RGBW等多種Pattern的老化性能測試分(fēn)析；
2.該方案非常适合于大(dà)規模的模組老化測試，最大(dà)可支持250個模組同時老化測試； 同時可集成箱體(tǐ)溫控功能，實現高溫加速老化測試。