1. OLED IVL測試設備(TEG)主要用于測試OLED TEG産品的IVL特性曲線、EQE及光譜參 數等(IVL機台可集成積分(fēn)球式EQE測試系統);2. 可增加溫度控制功能,實現不同溫度下(xià)的IVL測試;視角測量時CCD自動進行位置補償,保 證測試的準确性;3. 有效屏蔽外(wài)界信号幹擾,保證低壓下(xià)也能有光滑的IV曲線;4. 方便的軟件操作界面,可預點亮,可一(yī)鍵設定後自動完成所有工(gōng)作的IVL測試;